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德國Langer電磁兼容診斷設備產品介紹

  德國Langer是一家在電磁領域(EMC)進行研究、開發、生產和培訓的企業。Langer的電磁干擾發射和抗干擾能力測試技術以及集成電路測試系統為開發全過程提供支持,在全球范圍內廣受歡迎。其中為近場測試設計的探頭時電磁工程師必備的工具,用于在產品開發期間探測PCB電磁場情況。下面將對Langer產品的特點、分類及應用做詳細介紹。

  一、Langer產品的特點及分類

  近場EMI測量的結果和使用天線進行遠場測量的結果無法直接進行數學轉換。但是存在一個基本原理:近場的輻射越大,遠場的輻射也必然越大。所以使用近場探頭測量,實際上是一個相對量的測量,而不是精確的絕對量測量。

  1、Langer產品的特點

  ★專注于研發診斷測試,產品種類齊全,基本覆蓋電磁兼容診斷測試所需項目

  ★獨有的芯片(IC)電磁兼容診斷系統和設備、微型探頭、微型干擾注入裝置、小型芯片電磁干擾掃描儀,幾乎沒有競爭對手。國家大力發展芯片產業,未來市場廣闊。

  2、Langer產品的分類

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  二、Langer具體產品介紹

  (一)PCB和IC輻射發射診斷設備

  1.近場探頭組

  磁場探頭:接收磁場信號,一般為環形,頻率范圍100Khz~10GHZ

  電場探頭:接收電場信號,一般為平面形,頻率范圍30Mhz~10GHZ

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  近場探頭各種形狀及應用:

  LF-R50磁場探頭(100KHz-50MHz):適用于檢測約3cm范圍內的組裝件、設備或電纜。這種磁場探頭會把較大的元件識別為干擾源。

  XF-U2.5-1磁場探頭(30MHz-6GHz):用于選擇性測量導線、SMD組件和IC引腳中的高頻電流。這個探頭有一個大約0.5mm寬的磁場敏感缺口,測量時將這個缺口放在布線、IC或者電容器的連接點上。

  XF-E09s電場探頭(30MHz-6GHz):這種近場探頭可以檢測受測對象(IC)耦合產生的電場。探頭的側面采用屏障設計,所以側面作用的電場不影響測量結果。這種近場探頭的靈敏度允許在0.5到10mm的距離檢測集成電路及其他電子模塊的電場。

  XF-E10電場探頭(30MHz-6GHz):用于定位最小的電場,例如0.1mm寬的導線、高針數集成電路的單個引腳等發射的電場。測試時將該電場探頭放置在受測物體上。

  MFA01set微型探頭組(1MHz-6GHz):該探頭組的分辨率高,在磁場測量方面性能優異。它可以測量頻率范圍在6GHz以下的磁場。如信號線、SMD-元件(0603-0201)或集成電路板的引腳。

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  2.前置放大器(低噪聲放大器)

  用于放大小信號,以便在頻譜儀上更清晰的顯示出信號,一般為必選設備。

  ? 頻率范圍:100K~3GHz/6GHz

  ? 接頭:SMA/BNC/N

  ? 阻抗:50歐姆

  ? 增益:20dB/30dB(放大器主要指標)

  ? 供電:12v直流

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  低噪聲放大器常見的幾個接頭類型,給客戶推薦產品注意接頭類型的兼容。

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  3.EMI掃描儀

  PCB或IC電磁干擾源于干擾傳播路徑自動測試分析

  ? 頻率范圍:100K~3GHz/6GHz

  ? 測量范圍:(400x600x125)mm

  ? 包含自動測試軟件

  ? 需使用頻譜儀

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海洋儀器自研的EMI掃描儀,售價是Langer的一半!

  4.耦合網絡-LISN(阻抗穩定網絡)

  用于耦合到電源線上的傳導干擾信號的測試。主要用于汽車電子行業。

  ? 頻率范圍:100K~1GHz

  ? 電壓:50V   電流:10A

  ? 接頭:SMB

  ? 阻抗:50歐姆

  ? 插入損耗:10dB

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  (二)PCB和IC輻射發射診斷設備

  1、干擾注入探頭組

  Langer該類設備主要用于PCB測試

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  2、靜電、脈沖群、射頻干擾波形發生器

  Langer該類設備主要用于IC(芯片)測試,用于分析干擾信號在被測件內部的傳播形式及干擾信號對被測件測影響大小。需配合示波器、信號源、功率放大器和測試軟件組成測試系統。

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  三、Langer產品的主要應用

  電子設備及零部件、芯片的電磁兼容問題診斷,幫助工程師找到問題,完善產品電磁兼容設計

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