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產品簡介：
4200A-SCS是一個模塊化、可定制、高度一體化的參數分析儀，可同時進行電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和超快脈沖I-V電學測試。使用其可選的4200A-CVIV多通道開關模塊，可輕松地在I-V和C-V測量之間切換，而無需重新布線或抬起探針。4200A-SCS是最高性能的分析儀，可加快用于材料研究、半導體器件設計、工藝開發或生產的復雜器件的測試。
親眼見證創新！4200A-SCS是一種可以量身定制、全面集成的參數分析儀，可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V)和超快速脈沖式I-V特性。作為性能最高的參數分析儀，4200A-SCS加快了半導體、材料和工藝開發速度。4200A-SCS ClariusTM基于GUI的軟件提供了清楚的、不折不扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業知識和數百項隨時可以投入使用的應用測試，Clarius Software可以更深入地挖掘研究過程，快速而又滿懷信心。4200A-SCS參數分析儀可以根據不同用戶需求進行靈活配置，不管是現在還是未來，都可以隨時對系統進行升級。通過4200A-SCS參數分析儀，通往發現之路現在變得異常簡便。
功能特點：
| 特點 | 優勢 |
| 將源測量單元、C-V 單元和超快脈沖 I-V 單元無縫結合的一體化系統 | 快速、清晰和準確地執行 I-V 特性分析、交流阻抗測量、波形捕獲和瞬態 I-V 測量 |
| Clarius? 基于 GUI 的軟件，支持觸摸或鼠標控制 | 高級測試定義、參數分析、圖形繪制和自動化功能，實現清晰、卓越的測量和分析 |
| 內置上下文相關的測量視頻和 450 多種應用測試 | 快速啟動測試及提供測量幫助和故障排除向導 |
| I-V 源測量單元 (SMU) | ±210 V / 100 mA 或 ±210 V / 1 A 模塊，100 fA 測量分辨率，以及帶可選前放的 0.1 fA 測量分辨率 |
| C-V 多頻率電容單元 (CVU) | 交流阻抗測量（C-V、C-f、C-t），1 kHz – 10 MHz 頻率范圍 |
| I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV) | 在 I-V 和 C-V 測量之間輕松切換或將 C-V 測量移至任何終端，而無需重新布線或抬起探針 |
| 脈沖式 I-V 超快脈沖測量單元 (PMU) | 兩個獨立或同步的高速脈沖式 I-V 源和測量通道；200 MSa/s，5 ns 采樣率；利用可選的前放將電流靈敏度擴大到幾十皮安 |
| 高電壓脈沖發生器單元 (PGU) | 兩通道高速脈沖電壓源；±40 V (80 V p-p)，±800 mA |
| 可完全定制和升級 | 現在或以后均可根據需要隨時添加模塊 |
典型應用：
MOSFET、BJT晶體管
材料特性分析
非易失性存儲設備
電阻率系數和霍爾效應測量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
納米器件
二極管和pn聯結
太陽能電池
傳感器
MEMS器件
電化學
LED和OLED
（歡迎來函索取資料market@oitek.com.cn）
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