使用FPC1500和HM6050-2D針對開關電源進行EMI調試

　　您的任務

　　目前，研發工程師面臨完成的產品上市時間的挑戰，因延長產品開發時間和推遲產品發布會而錯失機遇和市場份額，從而付出高昂代價。大量產品在首次進行EMC一致性測試時都會不合格，工程師進行調試、隔離故障和校正EMI問題的每一天，都是在推遲產品的上市時間。

　　Rohde&Schwarz解決方案

　　要應對這些挑戰，可以在產品設計周期執行EMI測試，這可以提高產品通過EMC一致性測試的概率，此測試通常在產品開發末期進行。如圖所示，在產品開發末期校正EMI問題的成本要超過早期校正，在設計周期檢查點中整合預防措施，有助于避免出現成本高昂的項目延期問題。開關電源便是一個很好的例子，在開關電源的相關設計中，需要進行全面測試，高功率以及快速接通和斷開電流存在巨大的EMI風險。

　　輻射發射

　　所有電路都會出現輻射發射，輻射發射測試測量產品產生的無意發射的電磁場強度。

　　設置簡單

　　EMI調試只需要幾個步驟：

　　◇將合適的HZ-17近場探頭連接到FPC1000或FPC1500頻譜分析儀的射頻輸入端；

　　◇將探頭移至被測電路板或模塊上；

　　◇ELEKTRAEMI軟件(ELEMI-E)便于記錄結果。

　　HZ-17包含兩個探頭：較大的環型探頭具備出色的增益，適用于概要測量；較小的探頭有一個插孔式探頭尖端，并且也具備出色的增益，適用于低至電路板跡線的空間分辨率測量。如下圖所示，無論使用哪一個探頭，都需要考慮極化問題，場線必須垂直于探頭接收區域。

　　輻射發射的相應頻率范圍為30MHz至1000MHz，以測量因不足1μs的開關瞬態變化導致的高頻干擾。

　　根據組件選擇或先前進行的測量，設計人員已經知道被測電路板或模塊的臨界頻率，必須在FPC上相應地設置頻率和跨度。限值線可在顯示屏上用作合格/不合格指示，并輕松監控EMI設計優化后的改進情況。

　　實驗臺上帶有開路印刷電路板的非最終裝置會導致高頻耦合問題，如果電路板安裝在金屬外殼中且接地良好，可解決這個問題。

　　適用于開關電源的應對措施

　　如果被測設備超過發射限值，可以優化印刷電路板布局（例如縮短跡線、避免耦合），或進行主動測試（例如基于測量發射的組件選擇）。

　　傳導發射

　　EMI測量不僅包括輻射發射，還包括傳播至電源的傳導發射。傳導發射測量需要將射頻信號與電源分離并穩定在50Ω，這可以使用線路阻抗穩定網絡(LISN)。

　　實驗室是一個噪雜且不斷變化的電氣環境，因此需要借助參考接地面進行重復測量，使用屏蔽暗室有助于避免接收周圍環境中的信號。

　　設置簡單

　　羅德與施瓦茨提供簡單的傳導EMI測量解決方案，將HM6050-2D分別連接到以下設備：

　　★通過隔離變壓器連接到電源

　　★被測設備

　　★通過BNC電纜連接到FPC頻譜分析儀

　　★通過串行/USB適配器電纜連接到運行ELEKTRAEMI軟件(ELEMI-E)的電腦以交換線路，并通過LAN連接到FPC以進行遠程控制。

　　更多資料詳情請下載：海洋版文章：使用FPC1500和HM6050-2針對開關電源進行EMI調試.pdf

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